EPC veröffentlicht Stresstests von GaN-Bauteilen
EPC legt sehr großen Wert auf den Nachweis der Zuverlässigkeit seiner neuen GaN-Technologien. Deswegen werden Galliumnitrid-Bauteile unter extremer Spannung und Strombelastung auf Fehler getestet. Standard-Qualifikationstests für Halbleiter beinhalten typischerweise die [...]