EPC legt sehr großen Wert auf den Nachweis der Zuverlässigkeit seiner neuen GaN-Technologien. Deswegen werden Galliumnitrid-Bauteile unter extremer Spannung und Strombelastung auf Fehler getestet.
Standard-Qualifikationstests für Halbleiter beinhalten typischerweise die Überprüfung von Bauelementen an oder in der Nähe der Grenzwerte, die in ihren Datenblättern für einen längeren Zeitraum oder für eine bestimmte Anzahl von Zyklen angegeben sind, mit dem Ziel, möglichst keine Ausfälle zu demonstrieren.
Durch das Testen von Komponenten bis zum Punkt des Versagens wird ein Verständnis der Größe des Spielraums über die Datenblattgrenzen hinaus entwickelt, aber noch wichtiger ist, dass ein Verständnis der intrinsischen Versagensmechanismen des Halbleiters gefunden wird.

Lesen Sie hier den kompletten Artikel von Alex Lidow Ph.D., CEO and Co-founder, Efficient Power Conversion